它是(shi)如何工作的？探(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)將(jiang)(jiang)晶(jing)圓(yuan)(yuan)或芯片固定(ding)在(zai)(zai)(zai)(zai)安(an)裝在(zai)(zai)(zai)(zai)平(ping)臺(tai)(tai)上的卡盤上，該(gai)平(ping)臺(tai)(tai)允許(xu)將(jiang)(jiang) DUT 定(ding)位在(zai)(zai)(zai)(zai)顯(xian)微鏡視野的中心。機械手(shou)放置在(zai)(zai)(zai)(zai)平(ping)臺(tai)(tai)的平(ping)面(mian)上，并在(zai)(zai)(zai)(zai)機械手(shou)中插入(ru)探(tan)針(zhen)臂和先(xian)(xian)進。探(tan)頭先(xian)(xian)進必(bi)須適(shi)合要執行的測(ce)(ce)試程序。然(ran)后(hou)，用戶通過調整相應的操縱器(qi)將(jiang)(jiang)探(tan)針(zhen)先(xian)(xian)進精(jing)確定(ding)位在(zai)(zai)(zai)(zai)設(she)備(bei)內的正確位置。然(ran)后(hou)通過降低壓板(ban)使(shi)探(tan)針(zhen)與晶(jing)片接(jie)觸；現在(zai)(zai)(zai)(zai)可以測(ce)(ce)試該(gai)設(she)備(bei)。對于(yu)具有多個器(qi)件(jian)的晶(jing)圓(yuan)(yuan)，在(zai)(zai)(zai)(zai)測(ce)(ce)試一個器(qi)件(jian)后(hou)，可以升起壓板(ban)并將(jiang)(jiang)支撐晶(jing)圓(yuan)(yuan)的平(ping)臺(tai)(tai)移(yi)動(dong)到下(xia)一個器(qi)件(jian)。探(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)建設(she)需(xu)要綜(zong)合考慮(lv)技術、人力(li)、資金(jin)等眾多因(yin)素(su)。安(an)徽高精(jing)度探(tan)針(zhen)臺(tai)(tai)

探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)分(fen)類，探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)從操作上(shang)來區(qu)分(fen)有(you):手動(dong)，半自動(dong)，全自動(dong)，從功能上(shang)來區(qu)分(fen)有(you):溫控(kong)探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)，真空探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)(較低溫探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai))，RF探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)，LCD平(ping)板探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)，霍爾效應探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)，表面電阻率探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)。經濟手動(dong)型(xing)，根據(ju)客戶需求定制：chuck尺寸:4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12" (可(ke)(ke)選(xuan))；X-Y移動(dong)行程(cheng):4"*4" 6"*6" 8"*8" 12"*12"(可(ke)(ke)選(xuan))；chuck Z軸方(fang)向升降10mm(選(xuan)項(xiang))方(fang)便探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)與樣(yang)品(pin)快速(su)分(fen)離；顯(xian)微(wei)鏡(jing):金相(xiang)顯(xian)微(wei)鏡(jing)、體(ti)式顯(xian)微(wei)鏡(jing)、單筒顯(xian)微(wei)鏡(jing)(可(ke)(ke)選(xuan))；顯(xian)微(wei)鏡(jing)移動(dong)方(fang)式:立柱(zhu)環(huan)繞(rao)型(xing)、移動(dong)平(ping)臺(tai)(tai)型(xing)、龍門(men)結構型(xing)(可(ke)(ke)選(xuan))；探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)座:有(you)0.7um、2um、10um精度可(ke)(ke)選(xuan)，磁(ci)性吸附帶磁(ci)力開關；可(ke)(ke)搭配Probe card測(ce)試；適用領域:晶圓(yuan)廠、研究所(suo)、高校(xiao)等。浙江半導體(ti)晶圓(yuan)測(ce)試探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)價位探(tan)(tan)針(zhen)(zhen)臺(tai)(tai)的科技(ji)成果對(dui)推進全球科學事業、推動(dong)人(ren)類文明進步發揮著重要的作用。

探(tan)(tan)(tan)針臺(tai)(tai)的(de)(de)作(zuo)用(yong)是什么？探(tan)(tan)(tan)針臺(tai)(tai)可(ke)(ke)以(yi)將(jiang)電探(tan)(tan)(tan)針、光學探(tan)(tan)(tan)針或(huo)射頻探(tan)(tan)(tan)針放置在硅(gui)晶(jing)(jing)片上，從而可(ke)(ke)以(yi)與測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)儀器/半導(dao)體測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)系統配合來測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)芯(xin)(xin)片/半導(dao)體器件(jian)。這(zhe)些測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)可(ke)(ke)以(yi)很(hen)簡單，例如連續性(xing)或(huo)隔(ge)離檢查(cha)，也可(ke)(ke)以(yi)很(hen)復雜，包括微電路的(de)(de)完整(zheng)功能(neng)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)。可(ke)(ke)以(yi)在將(jiang)晶(jing)(jing)圓(yuan)鋸成(cheng)單個管芯(xin)(xin)之(zhi)(zhi)(zhi)前(qian)或(huo)之(zhi)(zhi)(zhi)后進行測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)。在晶(jing)(jing)圓(yuan)級別的(de)(de)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)允許制造(zao)商在生產過程中多次測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)芯(xin)(xin)片器件(jian)，這(zhe)可(ke)(ke)以(yi)提供有關哪(na)些工藝(yi)步驟將(jiang)缺陷引入較(jiao)終產品(pin)(pin)的(de)(de)信(xin)息。它還使制造(zao)商能(neng)夠在封裝(zhuang)之(zhi)(zhi)(zhi)前(qian)測(ce)(ce)(ce)試(shi)(shi)(shi)(shi)管芯(xin)(xin)，這(zhe)在封裝(zhuang)成(cheng)本相對于器件(jian)成(cheng)本高的(de)(de)應(ying)用(yong)中很(hen)重要(yao)。探(tan)(tan)(tan)針臺(tai)(tai)還可(ke)(ke)以(yi)用(yong)于研(yan)發、產品(pin)(pin)開發和(he)故障分析應(ying)用(yong)。

目前，市面上(shang)(shang)(shang)定位(wei)器(qi)主要的(de)(de)(de)形式(shi)有(you)三種：（1）燕尾(wei)導(dao)向型。使用燕尾(wei)導(dao)向機(ji)(ji)構，可有(you)效(xiao)地(di)(di)降低產(chan)(chan)品成本。缺點(dian)是，直線(xian)導(dao)向精(jing)度(du)比(bi)交叉滾(gun)子(zi)導(dao)軌(gui)要差(cha)(cha)，并不適用于高(gao)精(jing)度(du)操(cao)作(zuo)。通常(chang)看到(dao)該類配置(zhi)都是與配套了體視顯微(wei)鏡的(de)(de)(de)探(tan)針臺搭配使用。（2）交叉滾(gun)子(zi)導(dao)軌(gui)導(dao)向型。相(xiang)比(bi)于燕尾(wei)導(dao)軌(gui)，直線(xian)精(jing)度(du)有(you)效(xiao)地(di)(di)提高(gao)了。適用于目前大部分(fen)客戶的(de)(de)(de)定位(wei)需求。缺點(dian)是，超高(gao)倍數下因(yin)為(wei)機(ji)(ji)構原(yuan)因(yin)（XYZ機(ji)(ji)構是像蛋糕一(yi)(yi)樣一(yi)(yi)層(ceng)疊(die)一(yi)(yi)層(ceng)），手(shou)部操(cao)作(zuo)的(de)(de)(de)震(zhen)動(dong)(dong)(dong)很(hen)容(rong)易傳遞到(dao)探(tan)針上(shang)(shang)(shang)。在(zai)高(gao)倍下探(tan)針的(de)(de)(de)震(zhen)動(dong)(dong)(dong)會被觀察到(dao)，很(hen)影響用戶扎探(tan)針。比(bi)如要把探(tan)針扎到(dao)幾微(wei)米甚至(zhi)1微(wei)米左右的(de)(de)(de)PAD上(shang)(shang)(shang)，將會相(xiang)對比(bi)較困難(nan)。（3）交叉滾(gun)子(zi)導(dao)向、高(gao)穩(wen)定型。該結構設計把定位(wei)器(qi)上(shang)(shang)(shang)移動(dong)(dong)(dong)機(ji)(ji)構（XYZ）和(he)驅動(dong)(dong)(dong)絲(si)桿分(fen)開，能有(you)效(xiao)地(di)(di)將手(shou)部操(cao)作(zuo)產(chan)(chan)生(sheng)的(de)(de)(de)震(zhen)動(dong)(dong)(dong)隔離，實現真空(kong)意(yi)義(yi)上(shang)(shang)(shang)的(de)(de)(de)高(gao)精(jing)度(du)、高(gao)穩(wen)定操(cao)作(zuo)（Submicron Probing）。探(tan)針臺的(de)(de)(de)建設需要克服(fu)地(di)(di)球環境(jing)和(he)宇宙環境(jing)的(de)(de)(de)技術(shu)差(cha)(cha)距(ju)。

探(tan)針臺(tai)可以在(zai)(zai)整(zheng)個(ge)晶(jing)圓(yuan)上(shang)或被鋸成單個(ge)芯片(pian)后運(yun)行(xing)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)。整(zheng)個(ge)晶(jing)圓(yuan)級(ji)的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)允許制造商(shang)在(zai)(zai)整(zheng)個(ge)生產過程的(de)(de)(de)(de)不(bu)同階段(duan)多(duo)次(ci)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)設(she)備(bei)，并密切監控制造以查看是否(fou)存在(zai)(zai)任何缺陷。在(zai)(zai)較終封(feng)裝(zhuang)之前對單個(ge)芯片(pian)進(jin)行(xing)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)可以將有缺陷的(de)(de)(de)(de)器件從流通中移除，確保(bao)只封(feng)裝(zhuang)功(gong)能器件。探(tan)針臺(tai)在(zai)(zai)整(zheng)個(ge)研(yan)發(fa)、產品(pin)開發(fa)和(he)故障分析(xi)中都有很(hen)大的(de)(de)(de)(de)用途，工程師需要靈(ling)活而(er)精確的(de)(de)(de)(de)工具來對設(she)備(bei)的(de)(de)(de)(de)不(bu)同區域進(jin)行(xing)一系(xi)列測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)。讓一個(ge)好的(de)(de)(de)(de)探(tan)針臺(tai)與眾(zhong)不(bu)同并為您的(de)(de)(de)(de)測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)增加(jia)價值的(de)(de)(de)(de)是它(ta)能夠精確控制這些探(tan)針在(zai)(zai)設(she)備(bei)上(shang)的(de)(de)(de)(de)位置(zhi)、外部刺激的(de)(de)(de)(de)應用方(fang)式以及測(ce)(ce)(ce)(ce)試(shi)發(fa)生時設(she)備(bei)周圍的(de)(de)(de)(de)環境條件。探(tan)針臺(tai)的(de)(de)(de)(de)科研(yan)成果有助于(yu)人(ren)類(lei)更有效地(di)保(bao)護地(di)球(qiu)和(he)地(di)球(qiu)上(shang)的(de)(de)(de)(de)所有生命。安徽高精度探(tan)針臺(tai)價格

探針臺能(neng)夠幫(bang)助(zhu)科(ke)學(xue)家解決(jue)在太空探索過程中的(de)技術難題。安徽高(gao)精度探針臺

除探針(zhen)(zhen)臺外，晶(jing)圓(yuan)檢測(ce)環(huan)節(jie)還需(xu)要使用(yong)測(ce)試儀/機(ji)，測(ce)試儀/機(ji)用(yong)于檢測(ce)芯(xin)(xin)片功(gong)能和(he)性能，探針(zhen)(zhen)臺實現被(bei)測(ce)芯(xin)(xin)片與測(ce)試機(ji)的(de)連接，通過探針(zhen)(zhen)臺和(he)測(ce)試機(ji)的(de)配合(he)使用(yong)，可(ke)以(yi)對晶(jing)圓(yuan)上的(de)裸芯(xin)(xin)片進(jin)行功(gong)能和(he)電參數測(ce)試或射頻測(ce)試，可(ke)以(yi)對芯(xin)(xin)片的(de)良品(pin)、不(bu)良品(pin)的(de)進(jin)行篩選。 在封裝之前對單個芯(xin)(xin)片進(jin)行測(ce)試可(ke)以(yi)將有缺陷的(de)器件(jian)從流通中移(yi)除，確保只封裝功(gong)能器件(jian)。探針(zhen)(zhen)臺在整(zheng)個研發(fa)、產品(pin)開發(fa)和(he)故障分析中都有很大(da)的(de)用(yong)途，工程師需(xu)要靈活而精(jing)確的(de)工具來對設備的(de)不(bu)同區(qu)域(yu)進(jin)行一系列測(ce)試。安徽(hui)高精(jing)度(du)探針(zhen)(zhen)臺

深圳市泰克光電(dian)科(ke)技有限公司(si)致力于能(neng)(neng)源，是(shi)一家(jia)生(sheng)產(chan)型(xing)的(de)(de)公司(si)。公司(si)業務(wu)涵蓋探針臺，芯片測試機，藍膜編帶(dai)機，分光編帶(dai)機等，價格合理，品(pin)質有保(bao)證。公司(si)從事能(neng)(neng)源多年，有著創新的(de)(de)設計、強大的(de)(de)技術，還有一批(pi)專業化的(de)(de)隊伍(wu)，確保(bao)為客戶(hu)提供良(liang)好的(de)(de)產(chan)品(pin)及服務(wu)。泰克光電(dian)立足于全國市場(chang)，依托強大的(de)(de)研發實(shi)力，融合前沿(yan)的(de)(de)技術理念，及時(shi)響應客戶(hu)的(de)(de)需求。

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