AOI可(ke)用于生產線上(shang)的(de)(de)(de)(de)多個(ge)位(wei)(wei)置，在各個(ge)位(wei)(wei)置均可(ke)檢(jian)(jian)(jian)測特殊缺陷，但(dan)AOI檢(jian)(jian)(jian)查(cha)設備應放到(dao)一個(ge)可(ke)以(yi)盡早識別和改(gai)正較(jiao)多缺陷的(de)(de)(de)(de)位(wei)(wei)置。因此一般將AOI放置在以(yi)下三個(ge)比較(jiao)重要的(de)(de)(de)(de)位(wei)(wei)置：（1）錫膏(gao)印(yin)(yin)刷(shua)之(zhi)后。如果錫膏(gao)印(yin)(yin)刷(shua)過(guo)程(cheng)滿足要求，那么ICT發(fa)現的(de)(de)(de)(de)缺陷數量可(ke)大(da)幅度的(de)(de)(de)(de)減少。典型(xing)的(de)(de)(de)(de)印(yin)(yin)刷(shua)缺陷一般有(you)焊(han)(han)盤上(shang)焊(han)(han)錫不(bu)足、焊(han)(han)盤上(shang)焊(han)(han)錫過(guo)多、焊(han)(han)錫對(dui)焊(han)(han)盤的(de)(de)(de)(de)重合不(bu)良(liang)、焊(han)(han)盤之(zhi)間的(de)(de)(de)(de)焊(han)(han)錫橋。（2）回流(liu)焊(han)(han)前。檢(jian)(jian)(jian)查(cha)是(shi)(shi)在元件(jian)貼(tie)(tie)放在板上(shang)錫膏(gao)印(yin)(yin)刷(shua)之(zhi)后和PCB送(song)入回流(liu)爐之(zhi)前完成(cheng)的(de)(de)(de)(de)。這(zhe)是(shi)(shi)放置檢(jian)(jian)(jian)查(cha)機器的(de)(de)(de)(de)位(wei)(wei)置，因為這(zhe)里可(ke)發(fa)現來自(zi)錫膏(gao)印(yin)(yin)刷(shua)以(yi)及機器貼(tie)(tie)放的(de)(de)(de)(de)大(da)多數缺陷。不(bu)過(guo)一般這(zhe)個(ge)位(wei)(wei)置放置SPI比較(jiao)多，因為這(zhe)個(ge)位(wei)(wei)置的(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)查(cha)滿足過(guo)程(cheng)跟蹤(zong)的(de)(de)(de)(de)目(mu)標(biao)。（3）回流(liu)焊(han)(han)后。在SMT工藝過(guo)程(cheng)的(de)(de)(de)(de)步驟進行檢(jian)(jian)(jian)查(cha)，這(zhe)是(shi)(shi)目(mu)前AOI當下流(liu)行的(de)(de)(de)(de)選(xuan)擇，因為這(zhe)個(ge)位(wei)(wei)置可(ke)發(fa)現全部的(de)(de)(de)(de)裝配錯誤。回流(liu)焊(han)(han)后檢(jian)(jian)(jian)查(cha)可(ke)以(yi)提供高度的(de)(de)(de)(de)安全性，因為它識別由(you)錫膏(gao)印(yin)(yin)刷(shua)、元件(jian)貼(tie)(tie)裝和回流(liu)過(guo)程(cheng)引起的(de)(de)(de)(de)錯誤。1、按結構分類：簡易型(xing)手動(dong)離(li)線AOI設備，離(li)線AOI設備，在線AOI設備等；茂名自(zi)動(dong)化AOI檢(jian)(jian)(jian)測設備設備

AOI自動光學(xue)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測設備(bei)比(bi)(bi)較(jiao)大的(de)(de)(de)(de)優點(dian)就是(shi)(shi)(shi)(shi)可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)取代以(yi)(yi)(yi)前(qian)(qian)SMT爐(lu)前(qian)(qian)、爐(lu)后的(de)(de)(de)(de)人(ren)工(gong)目檢(jian)(jian)(jian)(jian)作(zuo)業，而(er)且可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)比(bi)(bi)人(ren)眼(yan)更精確的(de)(de)(de)(de)判斷出SMT的(de)(de)(de)(de)打件(jian)(jian)(jian)組裝缺(que)(que)點(dian)。但就如同人(ren)眼(yan)一般，AOI基本上也*能(neng)執行物(wu)件(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)表面檢(jian)(jian)(jian)(jian)查，所(suo)以(yi)(yi)(yi)只(zhi)要是(shi)(shi)(shi)(shi)物(wu)件(jian)(jian)(jian)表面上可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)看得到的(de)(de)(de)(de)形狀，它都(dou)可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)正確無(wu)誤的(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)查出來，但對(dui)(dui)于藏在零件(jian)(jian)(jian)底(di)下或是(shi)(shi)(shi)(shi)零件(jian)(jian)(jian)邊(bian)緣的(de)(de)(de)(de)焊(han)(han)點(dian)可(ke)(ke)能(neng)能(neng)力有(you)(you)限，當然現在有(you)(you)許(xu)多(duo)的(de)(de)(de)(de)AOI已經可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)作(zuo)到多(duo)角(jiao)度(du)的(de)(de)(de)(de)攝影來增加(jia)其(qi)對(dui)(dui)IC腳翹的(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)出能(neng)力，并(bing)增加(jia)某(mou)些被(bei)遮蔽元(yuan)件(jian)(jian)(jian)的(de)(de)(de)(de)攝影角(jiao)度(du)，以(yi)(yi)(yi)提供更多(duo)的(de)(de)(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)(jian)出率。AOI自動光學(xue)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測設備(bei)有(you)(you)個比(bi)(bi)較(jiao)大的(de)(de)(de)(de)缺(que)(que)點(dian)是(shi)(shi)(shi)(shi)有(you)(you)些灰(hui)階或是(shi)(shi)(shi)(shi)陰影明暗不是(shi)(shi)(shi)(shi)很明顯的(de)(de)(de)(de)地(di)方(fang)，比(bi)(bi)較(jiao)容(rong)易(yi)出現誤判的(de)(de)(de)(de)情況，這些或許(xu)可(ke)(ke)以(yi)(yi)(yi)使(shi)用(yong)不同顏色的(de)(de)(de)(de)燈光來加(jia)以(yi)(yi)(yi)判別，但**麻煩的(de)(de)(de)(de)還是(shi)(shi)(shi)(shi)那(nei)些被(bei)其(qi)他零件(jian)(jian)(jian)遮蓋到的(de)(de)(de)(de)元(yuan)件(jian)(jian)(jian)以(yi)(yi)(yi)及(ji)位于元(yuan)件(jian)(jian)(jian)底(di)下的(de)(de)(de)(de)焊(han)(han)點(dian)，因(yin)為傳(chuan)統的(de)(de)(de)(de)AOI只(zhi)能(neng)檢(jian)(jian)(jian)(jian)測直(zhi)射光線所(suo)能(neng)到達的(de)(de)(de)(de)地(di)方(fang)，像是(shi)(shi)(shi)(shi)屏蔽框肋條或是(shi)(shi)(shi)(shi)其(qi)邊(bian)緣底(di)下的(de)(de)(de)(de)元(yuan)件(jian)(jian)(jian)，往(wang)往(wang)就會因(yin)為AOI檢(jian)(jian)(jian)(jian)測不到而(er)漏掉(diao)。梅州多(duo)功(gong)能(neng)AOI檢(jian)(jian)(jian)(jian)測設備(bei)AOI檢(jian)(jian)(jian)(jian)測圖像對(dui)(dui)比(bi)(bi)實(shi)現原理目前(qian)(qian)比(bi)(bi)較(jiao)流行的(de)(de)(de)(de)圖像對(dui)(dui)比(bi)(bi)方(fang)式有(you)(you)哪三種？

PCB缺(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)可(ke)大致分(fen)(fen)(fen)為(wei)短(duan)路(lu)(lu)(lu)（包括基(ji)銅短(duan)路(lu)(lu)(lu)、細線短(duan)路(lu)(lu)(lu)、電鍍斷路(lu)(lu)(lu)、微塵(chen)短(duan)路(lu)(lu)(lu)、凹坑短(duan)路(lu)(lu)(lu)、重復性短(duan)路(lu)(lu)(lu)、污漬短(duan)路(lu)(lu)(lu)、干(gan)膜短(duan)路(lu)(lu)(lu)、蝕(shi)刻(ke)不(bu)足短(duan)路(lu)(lu)(lu)、鍍層(ceng)過(guo)(guo)(guo)(guo)厚短(duan)路(lu)(lu)(lu)、刮擦(ca)短(duan)路(lu)(lu)(lu)、褶皺短(duan)路(lu)(lu)(lu)等(deng)(deng)），開(kai)路(lu)(lu)(lu)（包括重復性開(kai)路(lu)(lu)(lu)、刮擦(ca)開(kai)路(lu)(lu)(lu)、真空開(kai)路(lu)(lu)(lu)、缺(que)口開(kai)路(lu)(lu)(lu)等(deng)(deng)）和(he)(he)(he)(he)其(qi)(qi)他一些可(ke)能(neng)導致PCB報廢的(de)(de)缺(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)（包括蝕(shi)刻(ke)過(guo)(guo)(guo)(guo)度(du)、電鍍燒焦、),在(zai)PCB生(sheng)產流程中，基(ji)板(ban)的(de)(de)制作、覆(fu)銅有可(ke)能(neng)產生(sheng)一些缺(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)，但(dan)主(zhu)要缺(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)在(zai)蝕(shi)刻(ke)之后產生(sheng)，AOI一般在(zai)蝕(shi)刻(ke)工(gong)序之后進(jin)(jin)行(xing)檢測(ce)(ce)，主(zhu)要用(yong)來發現(xian)其(qi)(qi)上缺(que)少的(de)(de)部(bu)(bu)分(fen)(fen)(fen)和(he)(he)(he)(he)多余的(de)(de)部(bu)(bu)分(fen)(fen)(fen)。在(zai)PCB檢測(ce)(ce)中，圖(tu)像對(dui)比(bi)算法應(ying)用(yong)較(jiao)多，且(qie)以2D檢測(ce)(ce)為(wei)主(zhu)，其(qi)(qi)主(zhu)要包括數(shu)據(ju)處(chu)理(li)(li)類(lei)（對(dui)輸入的(de)(de)數(shu)據(ju)進(jin)(jin)行(xing)初步處(chu)理(li)(li)，過(guo)(guo)(guo)(guo)濾小(xiao)的(de)(de)和(he)(he)(he)(he)殘留(liu)銅及(ji)不(bu)需檢測(ce)(ce)的(de)(de)孔等(deng)(deng)），測(ce)(ce)量類(lei)（對(dui)輸入的(de)(de)數(shu)據(ju)進(jin)(jin)行(xing)特(te)(te)(te)征(zheng)(zheng)提(ti)取，記錄的(de)(de)特(te)(te)(te)征(zheng)(zheng)代碼(ma)、尺寸和(he)(he)(he)(he)位置并與標準數(shu)據(ju)進(jin)(jin)行(xing)對(dui)比(bi)）和(he)(he)(he)(he)拓撲(pu)類(lei)（用(yong)于檢測(ce)(ce)增加或丟失的(de)(de)特(te)(te)(te)征(zheng)(zheng)），圖(tu)1為(wei)特(te)(te)(te)征(zheng)(zheng)提(ti)取法示意圖(tu)，（a）為(wei)標準版(ban)和(he)(he)(he)(he)被檢板(ban)二(er)值圖(tu)，（b）為(wei)數(shu)學形態分(fen)(fen)(fen)析(xi)后的(de)(de)特(te)(te)(te)征(zheng)(zheng)圖(tu)。AOI一般可(ke)以發現(xian)大部(bu)(bu)分(fen)(fen)(fen)缺(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)，存在(zai)少量的(de)(de)漏檢問題，不(bu)過(guo)(guo)(guo)(guo)主(zhu)要影響其(qi)(qi)可(ke)靠性的(de)(de)還是誤檢問題。PCB加工(gong)過(guo)(guo)(guo)(guo)程中的(de)(de)粉塵(chen)、沾(zhan)污和(he)(he)(he)(he)一部(bu)(bu)分(fen)(fen)(fen)材料的(de)(de)反射(she)性差都(dou)可(ke)能(neng)造成虛(xu)假報警，因此目前在(zai)使用(yong)AOI檢測(ce)(ce)出缺(que)陷(xian)(xian)(xian)(xian)后，必須(xu)進(jin)(jin)行(xing)人工(gong)驗證(zheng)。

AOI檢(jian)(jian)(jian)測是(shi)制造業視覺檢(jian)(jian)(jian)測系統(tong)產業中視覺檢(jian)(jian)(jian)測設(she)備(bei)(bei)的(de)(de)(de)一(yi)部(bu)分(fen)。AOI檢(jian)(jian)(jian)測被普遍運用于PCB印刷(shua)電路(lu)板(ban)、平板(ban)顯示器(qi)和半導體芯(xin)片(pian)等電子元器(qi)件領(ling)域(yu)，是(shi)現(xian)階段PCB印刷(shua)電路(lu)板(ban)和集成(cheng)電路(lu)芯(xin)片(pian)生(sheng)產過程(cheng)中，至關重要的(de)(de)(de)組成(cheng)部(bu)分(fen)。一(yi)、AOI檢(jian)(jian)(jian)測的(de)(de)(de)崛起和發(fa)展我國AOI檢(jian)(jian)(jian)測行業從(cong)20世紀(ji)80年代逐(zhu)漸(jian)開始發(fa)展，迄今為(wei)止大概經歷過四個階段：從(cong)1985年的(de)(de)(de)空白期到現(xian)在的(de)(de)(de)智能化(hua)系統(tong)，從(cong)人工目檢(jian)(jian)(jian)到3DAOI視覺檢(jian)(jian)(jian)測技術的(de)(de)(de)不斷應用，伴隨著SMT組裝向標準化(hua)和精細化(hua)發(fa)展，AOI檢(jian)(jian)(jian)測設(she)備(bei)(bei)具(ju)備(bei)(bei)寬(kuan)闊(kuo)的(de)(de)(de)應用前景。視覺檢(jian)(jian)(jian)測中AOI和AVI有(you)什(shen)么區別？

AOI的包含(han)情(qing)況以及三種檢(jian)測方法(fa)一(yi)、AOI系統一(yi)般包含(han)：1.照明系統2.光學透鏡

3.CCD攝像(xiang)系統(tong)4.檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)工作臺5.檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)程序(xu)6.預存模(mo)板7.圖(tu)(tu)像(xiang)處(chu)理(li)識別系統(tong)8.數據記錄(lu)處(chu)理(li)系統(tong)二、三種檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)算法1.DRC檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)基(ji)本思(si)想：DRC使用一(yi)套用戶設計的(de)(de)規則來(lai)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)違(wei)反(fan)設計規則的(de)(de)二進制數據，所(suo)有不符(fu)合規則的(de)(de)特征(zheng)都認為(wei)是(shi)缺(que)(que)陷(xian)。規則包(bao)括：允(yun)許的(de)(de)較大(da)較小線寬(kuan)(kuan)、較大(da)較小焊(han)(han)盤尺寸、較小導體間(jian)距、所(suo)有線寬(kuan)(kuan)都必須以焊(han)(han)盤結(jie)束等。檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)缺(que)(que)陷(xian)：毛刺、鼠咬、線條、間(jian)距、焊(han)(han)盤尺寸違(wei)反(fan)等。2.特征(zheng)比(bi)較基(ji)本思(si)想：分別提取模(mo)板（CAM或者黃金模(mo)板）和待檢(jian)(jian)(jian)圖(tu)(tu)像(xiang)中的(de)(de)鏈接性特征(zheng)，然后比(bi)較結(jie)果，不同之(zhi)處(chu)就是(shi)缺(que)(que)陷(xian)。檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)缺(que)(que)陷(xian)：開路(lu)，短路(lu)3.粗檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)缺(que)(que)陷(xian)基(ji)本思(si)想：將模(mo)板圖(tu)(tu)像(xiang)和待檢(jian)(jian)(jian)圖(tu)(tu)像(xiang)進行異或運算，得到圖(tu)(tu)像(xiang)之(zhi)間(jian)的(de)(de)不同。檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)缺(que)(que)陷(xian)：大(da)缺(que)(que)陷(xian)（丟失或多余(yu)的(de)(de)大(da)焊(han)(han)盤）AOI就是(shi)自(zi)動(dong)光學檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)，也是(shi)SMT貼片加(jia)工中常用的(de)(de)檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)手段之(zhi)一(yi)。茂名自(zi)動(dong)化AOI檢(jian)(jian)(jian)測(ce)(ce)(ce)設備(bei)設備(bei)

AOI在(zai)SMT各(ge)工序的(de)應用?茂名自動化AOI檢(jian)測設(she)(she)備(bei)設(she)(she)備(bei)

SMT中(zhong)應用(yong)的(de)錫膏檢(jian)測(ce)技術的(de)形式(shi)多(duo)種(zhong)多(duo)樣，但其中(zhong)AOI的(de)基本原(yuan)(yuan)理是(shi)相(xiang)同的(de)，就是(shi)用(yong)光學原(yuan)(yuan)理獲(huo)取被(bei)測(ce)物(wu)品圖象(xiang)，一(yi)般通過(guo)攝像機(ji)獲(huo)得檢(jian)測(ce)物(wu)的(de)照(zhao)明(ming)圖象(xiang)然(ran)后數(shu)字化(hua)，再以某(mou)種(zhong)方(fang)法進(jin)行(xing)比較、分(fen)析(xi)、檢(jian)驗和判斷，相(xiang)當于將人工(gong)目視檢(jian)測(ce)轉變為(wei)(wei)自(zi)動(dong)化(hua)、智能化(hua)。AOI分(fen)析(xi)和判斷的(de)算法可分(fen)為(wei)(wei)兩種(zhong)，一(yi)種(zhong)是(shi)設計(ji)規則檢(jian)驗（矢(shi)(shi)量分(fen)析(xi)），一(yi)種(zhong)是(shi)圖形識別檢(jian)驗。矢(shi)(shi)量分(fen)析(xi)是(shi)按照(zhao)固定(ding)的(de)規則檢(jian)測(ce)圖形。一(yi)般是(shi)所有(you)連線以焊點(dian)為(wei)(wei)端點(dian)，所有(you)引線寬度、間隔(ge)不小于某(mou)一(yi)規定(ding)值等規則檢(jian)測(ce)PCB電路(lu)圖形。茂名自(zi)動(dong)化(hua)AOI檢(jian)測(ce)設備(bei)設備(bei)

深圳市和田古(gu)德自(zi)(zi)動化設備有(you)(you)限(xian)公(gong)司成(cheng)立(li)于2011-01-31，同時啟(qi)動了以GDK為(wei)(wei)主的(de)(de)(de)(de)全自(zi)(zi)動錫膏印刷(shua)(shua)機(ji)(ji)，全自(zi)(zi)動高(gao)速點(dian)膠機(ji)(ji)，AOI，SPI產(chan)業(ye)布局。是具有(you)(you)一(yi)(yi)(yi)定實力(li)(li)的(de)(de)(de)(de)機(ji)(ji)械及(ji)行業(ye)設備企業(ye)之一(yi)(yi)(yi)，主要提(ti)供(gong)全自(zi)(zi)動錫膏印刷(shua)(shua)機(ji)(ji)，全自(zi)(zi)動高(gao)速點(dian)膠機(ji)(ji)，AOI，SPI等領域(yu)內的(de)(de)(de)(de)產(chan)品或服務。隨著我們的(de)(de)(de)(de)業(ye)務不斷(duan)擴展，從(cong)全自(zi)(zi)動錫膏印刷(shua)(shua)機(ji)(ji)，全自(zi)(zi)動高(gao)速點(dian)膠機(ji)(ji)，AOI，SPI等到眾多其他領域(yu)，已經(jing)逐步成(cheng)長為(wei)(wei)一(yi)(yi)(yi)個(ge)獨特(te)，且具有(you)(you)活力(li)(li)與創新的(de)(de)(de)(de)企業(ye)。值(zhi)得一(yi)(yi)(yi)提(ti)的(de)(de)(de)(de)是，和田古(gu)德致(zhi)力(li)(li)于為(wei)(wei)用(yong)戶帶去更為(wei)(wei)定向、專業(ye)的(de)(de)(de)(de)機(ji)(ji)械及(ji)行業(ye)設備一(yi)(yi)(yi)體(ti)化解決方(fang)案，在有(you)(you)效降低用(yong)戶成(cheng)本的(de)(de)(de)(de)同時，更能(neng)憑借科學的(de)(de)(de)(de)技術讓用(yong)戶極(ji)大(da)限(xian)度地挖掘(jue)GDK的(de)(de)(de)(de)應用(yong)潛能(neng)。

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